專業的TC Wafer、RTD Wafer、On Wafer測溫系統提供精確控溫保障
成熟測溫系統軟件，具備Mapping功能，溫度情況一目了然
多尺寸wafer可供選擇，滿足客戶不同wafer尺寸控溫要求
AGS 晶圓型間隙量測試片
AMS 晶圓型多功能測試片
ALS晶圓型水平測試校準片
測溫材質可選擇硅晶片、藍寶石等
提供2”、3”、4”、6”、8”、12”晶圓供選擇
晶圓形狀可有圓形和方式選擇
測溫點數：1-81點
配備專業的售前和售后服務工程師
提供售前產品咨詢、選型、購買和售后安裝、使用、維護服務
專業的維修服務為客戶進一步提高經濟效益
廣東瑞樂半導體科技有限公司
Guangdong Ruile Semi technology Co.,Ltd
廣東瑞樂半導體科技有限公司（以下簡稱“瑞樂半導體”）成立于2016年，是專業的晶圓測溫系統和晶圓校準成套系統的高科技企業，主要產品有TC Wafer晶圓測溫系統、RTD Wafer晶圓測溫系統（有線/無線）、On Wafer無線晶圓測溫系統，AMS無線校準測量晶圓系統、ATS無線校準測量晶圓系統等，為半導體企業提供高精度的晶圓測溫解決方案和晶圓校準測量解決方案。主要測溫應用場景包括：半導體制程中的爐管、勻膠顯影機、PVD Chamber 、? CVD Chamber、RTP/RTA Chamber 、去膠Strippers、靜電卡盤（ESC）、加熱板 Hot Plates、致冷盤 Cold Plates、后段探針臺、等離子蝕刻、離子注入、清洗、化學機械拋光、蒸鍍等場景，以及半導體制程中涂膠顯影、退火、刻蝕、薄膜沉積，制程腔體溫度、濕度、位置、尺寸校準，晶圓傳輸狀態測量等。
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